62417@CEI:2010 11 COMMISSIONELECTROTECHNIQUEINTERNATIONALE DISPOSITIFSASEMICONDUCTEURS ESSAISD'IONSMOBILESPOURTRANSISTORS ASEMICONDUCTEURAOXYDEMETALLIQUE A EFFET DE CHAMP (MOSFETs) AVANT-PROPOS 1)La Commission Electrotechnique Internationale (CEl)est une organisation mondiale denormalisation HOFENTERTAMUSEN IMISELDCANCNURANGSULPRED BY BOO SPPLY BUREAU. domaines de I'electricite et de I'electronique. A cet effet, la CEl - entre autres activites - publie des Normes internationales, des Specifications techniques, des Rapports techniques, des Specifications accessibles au IN public (PAS) et des Guides (ci-apres denommes "Publication(s) de la CEl"). Leur elaboration est confiee a des JTERN organisations internationales,gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEl, participent NALUS egalement aux travaux. La CEi collabore etroitement avec I'Organisation Internationale de Normalisation (IsO), selon des conditions fixees par accord entre les deux organisations. TTHIS interesses sont representes dans chaque comite d'etudes. 3) Les Publications de la CEl se presentent sous la forme de recommandations internationales et sont agreees SEDOCAANCHUNAY comme telles par les Comites nationaux de la CEl. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEl s'assure de I'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEl ne peut pas etre tenue responsable NCF 4)Dans le but d'encourager I'uniformite internationale, les Comites nationaux de la CEl s'engagent, dans toute la mesure possible,a appliquer de facon transparente les Publications de la CEldans leurs publications nationales ou regionales correspondantes doivent etre indiquees en termes clairs dans ces dernieres 5) La CEl elle-meme ne fournit aucune attestation de conformite. Des organismes de certification independants fournissent des services d'evaluation de conformite et, dans certains secteurs, accedent aux marques de conformite de la CEl.La CEl n'est responsable d'aucun des services effectués par les organismes de certification independants. 6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la derniere édition de cette publication. Aucune responsabilite ne doit étre imputee a la CEl, a ses administrateurs, employes, auxiliaires ou 7) mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comites d'études et des Comites nationaux de la CEl, pour tout prejudice cause en cas de dommages corporels et materiels, ou de tout autre de justice) et les depenses decoulant de la publication ou de I'utilisation de cette Publication de la CEl ou de toute autre Publication de la CEl, ou au credit qui lui est accorde. 8) L'attention est attiree sur les references normatives citees dans cette publication. L'utilisation de publications 9) L'attention est attiree sur le fait que certains des elements de la presente Publication de la CEl peuvent faire I'objet de droits de propriete intellectuelle ou de droits analogues. La CEl ne saurait etre tenue pour La Norme Internationale CEl62417aéteétablieparlecomitéd'études47dela CEI: Dispositifs a semiconducteurs. Letexte de cette norme est issu desdocuments suivants: FDIS Rapport de vote 47/2042/FDIS 47/2049/RVD Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti a I'approbation de cette norme. Cette publication a éte redigee selon les Directives ISO/CEl, Partie2. - 12 - 62417@CEI:2010 Le comite a decide que le contenu de cette publication ne sera pas modifie avant la date de stabilite indiquee sur le site web de la CEl sous"http://webstore.iec.ch" dans les donnees relatives a la publication recherchee.Acette date,lapublication sera reconduite; supprimee; remplacéeparuneédition révisée,ou amendee. HOCENSERTAMUSENIMIEDCANCNHURAYGSLPRED BY BOK SPLY BUREAU. S - 13 - 62417@CEl:2010 DISPOSITIFSASEMICONDUCTEURS ESSAISD'IONSMOBILESPOURTRANSISTORS ASEMICONDUCTEURAOXYDEMETALLIQUE A EFFET DE CHAMP (MOSFETs) 1 Domaine d'application La présente norme fo