(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111556140.3 (22)申请日 2021.12.17 (71)申请人 南方电网科 学研究院有限责任公司 地址 510663 广东省广州市萝岗区科 学城 科翔路11号J1栋3、 4、 5楼及J3 栋3楼 (72)发明人 白浩　袁智勇　雷金勇　潘姝慧　 李巍　史训涛　徐敏　喻磊　 孙奇珍　阳浩　郭琦　 (74)专利代理 机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 代理人 李增苗 (51)Int.Cl. G06Q 50/06(2012.01) G06Q 10/00(2012.01) (54)发明名称 一种台区拓扑校验方法、 装置、 设备和存储 介质 (57)摘要 本申请公开了一种台区拓扑校验方法、 装 置、 设备和存储介质， 方法包括： 采集待校验台区 中第一节点和第二节点各自对应的连续特征数 据和离散 特征数据矩阵； 根据积分似然数和差分 似然数， 计算两连续特征数据之间的连续特征可 信度； 对离散特征数据矩阵进行降维后， 基于Fr é chet距离， 计算两降维后的离散 特征数据矩阵之 间的离散 特征可信度； 根据连续特征可信度和离 散特征可信度， 计算综合可信度； 根据综合可信 度和预设可信度阈值的对比结果， 得到第一节点 和第二节点的节点连接关系； 通过节点连接关 系， 对待校验台区中第一节点和第二节点的当前 连接关系进行校验。 解决了 现有目前台区拓扑校 验方法准确度较低的技 术问题。 权利要求书2页 说明书8页 附图3页 CN 114219680 A 2022.03.22 CN 114219680 A 1.一种台区拓扑 校验方法， 其特 征在于， 包括： 采集待校验台区中第一节点和第二节点各自对应的连续特征数据和离散特征数据矩 阵； 根据积分似然数和差分似然数， 计算两连续特 征数据之间的连续特 征可信度； 对所述离散特征数据矩阵进行降维后， 基于Fr échet距离， 计算两降维后的离散特征数 据矩阵之间的离 散特征可信度； 根据所述连续特 征可信度和所述离 散特征可信度， 计算综合可信度； 根据所述综合可信度和预设可信度阈值的对比结果， 得到所述第 一节点和所述第 二节 点的节点连接关系； 通过所述节点连接关系， 对所述待校验台区中所述第 一节点和所述第 二节点的当前连 接关系进行 校验。 2.根据权利要求1所述的台区拓扑校验方法， 其特征在于， 根据积分似然数和差分似然 数， 计算两连续特 征数据之间的连续特 征可信度， 具体包括： 基于积分似然数计算公式， 计算两连续特 征数据之间的积分似然数； 根据差分似然数计算公式， 计算两连续特 征数据之间的差分似然数； 基于连续特征可信度计算公式， 根据所述积分似然数和所述差分似然数， 计算两连续 特征数据之间的连续特 征可信度。 3.根据权利要求2所述的台区拓扑校验方法， 其特征在于， 所述积分似然数计算公式 为： 式中， ui,uj分别表示节点i的连续特征数据和节点j的连续特征数据， θ为优化超参数， log pa(ui,uj|θ )为积分似然数， t表示采样点， 表示连续特征数据ui的方差， 表示连续 特征数据ui和连续特 征数据uj的协方差， 表示连续特 征数据uj的方差。 4.根据权利要求2所述的台区拓扑校验方法， 其特征在于， 所述差分似然数计算公式 为： 式中， ui,uj分别表示节点i的连续特征数据和节点j的连续特征数据， θ为优化超参数， log pd(ui,uj|θ )为差分似然数， t表示采样点， 表示连续特征数据ui的方差， 表示连续 特征数据uj的方差。 5.根据权利要求2所述的台区拓扑校验方法， 其特征在于， 所述连续特征可信度计算公 式为： clcij＝log pa(ui,uj| θ )‑log pd(ui,uj| θ )； 式中， clcij为连续特征可信度， log  pd(ui,uj|θ )为差分似然数， log  pa(ui,uj|θ )为积 分似然数。 6.根据权利要求1所述的台区拓扑校验方法， 其特征在于， 对所述离散特征数据矩阵进权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114219680 A 2行降维具体包括： 遍历离散特征数据矩阵DIS中的第p行元素， 将元素值为1的元素配置为(p+1) ×2‑1， 将 元素值为‑1的元素配置为(p+1) ×2+1； 遍历离散特征数据矩阵DIS中的所有行， 得到中间矩阵DIS ′； 删除离散特征数据矩阵DIS ′中所有的零 值元素， 得到降维后的离 散特征数据矩阵。 7.根据权利要求1所述的台区拓扑校验方法， 其特征在于， 根据 所述连续特征可信度和 所述离散特征可信度， 计算综合可信度， 具体包括： 基于综合可信度计算公式， 根据所述连续特征可信度和所述离散特征可信度， 计算综 合可信度， 其中， 所述综合可信度计算公式为： cl＝ λcldij+(1‑λ )clcij； 式中， cl为综合可信 度， λ为可信度系数， cldij为离散特征可信 度， clcij为连续特征可信 度。 8.一种台区拓扑 校验装置， 其特 征在于， 包括： 采集单元， 用于采集待校验台区中第 一节点和第 二节点各自对应的连续特征数据和离 散特征数据矩阵； 第一计算单元， 用于根据积分似然数和差分似然数， 计算两连续特征数据之间的连续 特征可信度； 第二计算单元， 用于对所述离散特征数据矩阵进行降维后， 基于Fr échet距离， 计算两 降维后的离 散特征数据矩阵之间的离 散特征可信度； 第三计算单元， 用于根据所述连续特征可信度和所述离散特征可信度， 计算综合可信 度； 第四计算单元， 用于根据所述综合可信度和预设可信度阈值的对比结果， 得到所述第 一节点和所述第二节点的节点连接关系； 校验单元， 用于通过所述节点连接关系， 对所述待校验台区中所述第一节点和所述第 二节点的当前 连接关系进行 校验。 9.一种台区拓扑 校验设备， 其特 征在于， 包括处 理器以及存 储器； 所述存储器用于存 储程序代码， 并将所述 程序代码传输给 所述处理器； 所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行权利要求1至7中任一项所述的台区 拓扑校验方法。 10.一种存储介质， 其特征在于， 所述存储介质用于存储程序代码， 所述程序代码用于 执行权利要求1至7中任一项所述的台区拓扑 校验方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114219680 A 3