(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221187627.9 (22)申请日 2022.05.18 (73)专利权人 远方谱色科技有限公司 地址 310200 浙江省杭州市萧 山区萧山经 济技术开发区红垦农场垦辉六路739 号 (72)发明人 黄艳　潘建根　 (51)Int.Cl. G01N 21/55(2014.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种反射测量装置 (57)摘要 本实用新型公开一种反射测量装置， 包括照 明装置、 被测样品、 孔径光阑以及光学测量装置， 所述照明装置包括一个或以上的光源， 所述照明 装置出射的光线经孔径光阑的通光孔入射至所 述被测样品， 所述被测样品的表 面的反射光线入 射至光学测量装置， 实现被测样品的光学特性测 量； 其中， 所述孔径光阑连接被测样品一侧为高 光泽表面。 本实用新型可以极大程度的减少杂散 光的影响， 提高测量精度和重复性， 且应用范围 广。 权利要求书1页 说明书4页 附图3页 CN 217688562 U 2022.10.28 CN 217688562 U 1.一种反射测量装置， 其特征在于， 包括照明装置 （1） 、 被测 样品 （2） 、 孔径光阑 （3） 以及 光学测量装置 （4） ， 所述照明装置 （1） 包括一个或以上的光源 （5） ， 所述照明装置 （1） 出射的 光线经孔径光阑 （3） 的通光孔入射至所述被测样 品 （2） ， 所述被测样 品 （2） 表面的反射光线 入射至光学测量装置 （4） ， 实现被测样品的光学特性测量； 其中， 所述孔径光阑 （3） 连接被测 样品一侧为高光泽表面； 所述孔径 光阑 （3） 还设有凹槽 （6） ， 所述凹槽 （6） 位于孔径 光阑的通 光孔的外围， 其 直径大于通 光孔的直径， 且所述凹槽 （6） 表面涂有黑色涂层。 2.根据权利要求1所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 还包括用于遮挡环境杂散光 的遮光罩 （7） ， 所述遮光 罩 （7） 与孔径光阑的凹槽 （6） 密闭连接 。 3.根据权利要求1或2所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 所述照明装置 （1） 还包括 积分球 （8） ， 所述积分球 （8） 上设置有照明窗口 （8 ‑1） 、 采样窗口 （8 ‑2） 和探测窗口 （8 ‑3） ， 所 述光源 （5） 通过照明窗口 （8 ‑1） 进入到积分球 （8） 中， 所述采样窗口 （8 ‑2） 与孔径光阑 （3） 耦 合连接， 被测样品 （2） 紧贴放置于所述孔径 光阑 （3） 的通光孔的后方， 所述光学测量装置 （4） 接收探测窗口 （8 ‑3） 处的光线。 4.根据权利要求3所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 所述积分球 （8） 的探测窗口 （8‑3） 设置在偏离采样窗口 （8 ‑2） 中心法线8 °的方向。 5.根据权利要求1或2所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 所述照明装置 （1） 的光线 轴线相对于所述被测样品 （2） 的法线成45 °夹角， 定向照射所述被测样品 （2） 表 面， 所述光学 测量装置 （4） 放置于被测样 品 （2） 法线方向， 接收与所述被测样 品 （2） 法线方向夹角为0 °的 反射光线。 6.根据权利要求1或2所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 所述照明装置 （1） 的光线 轴线相对于所述被测样 品 （2） 的法线成0 °夹角， 定向照射所述被测样 品 （2） 表面， 所述光学 测量装置 （4） 放置于被测样品 （2） 法线成45 °夹角方向的光路上， 接收与所述被测样品 （2） 法 线方向夹角为 45°的反射光线。 7.根据权利要求1或2所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 所述光学测量装置 （4） 包 括光度测量单 元和颜色测量单 元。 8.根据权利要求1或2所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 所述光学测量装置 （4） 包 括图像测量单 元。 9.根据权利要求1或2所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 所述照明装置 （1） 还包括 控制光源独立 开启、 关闭以及发光调节的光源驱动装置 。 10.根据权利要求2所述的一种反射测量装置， 其特征在于， 所述的遮光罩内设置可拆 卸的样品仓， 所述样品仓包括玻璃盖板； 所述样品仓设置于孔径光阑 （3） 的通光孔处、 紧贴 所述孔径光阑 （3） 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217688562 U 2一种反射测量装 置 技术领域 [0001]本实用新型 涉及光电测试 领域， 具体涉及一种反射测量装置 。 背景技术 [0002]随着印染、 纺织、 印刷等行业的快速 发展， 对于产品的颜色、 反射率、 透射率等材料 表面光学特性的测量和评估越来越受到业内广泛重视。 其中， 对于材料表面颜色以及反射 率的测量中， 基于D/8、 45/0以及0/45照明测量几何的测量装置已经得到广泛应用。 现有技 术中， 通常采用人工光源照射被测样品， 由探测器接收来自被测样品表面的反射光， 通过对 反射光进行处 理分析， 进 而表征被测样品的反射 率、 颜色等 参数。 [0003]在实际测量中， 样品的光学表面较为复杂， 一些样品表面或者体内会存在散射， 如 图1所示， 入射光线到达样品内后， 被样品体内的不均匀颗粒或者物质反射， 导致入射光线 从距离入射位置横向一定距离处出射， 光从测量区域以外出射， 没有入射接收探测器， 这种 现象称之为横向扩散损失。 这种横向扩散损失会影响此类样品的反射率测量结果， 使反射 率测量值偏低， 并影响测量的颜色数据。 对于计算机配色应用， 横向扩散损失会低估颜料的 散射特性， 导致在配 色计算过程中， 颜 料加量失准， 配色精度下降。 针对此类问题， 需要尽量 降低样品横向扩散损失。 目前有技术报告推荐了一种降低样品横向扩散损失的方法， 即增 大测量区域和照明区域的比例， 但是测 量区域太小会影响测量灵敏度， 也会影响最终测试 的精度， 照明区域太大， 对被测样品尺寸也会有要求， 如果是积分球结构的仪器， 照明区域 增大意味着 积分球的球径也需要做的比较大， 影响设备体积的同时也会影响测量灵敏度。 实用新型内容 [0004]针对现有技术的不足， 本实用新型提供一种反射测量装置， 旨在解决现有的测试 装置在测试具有横向扩散损失的样品的反射特性的测 量精度以及测 量复现性等方面存在 的缺陷， 提高测量的精度和复现性， 也 为计算机配色应用提供了有力保障。 [0005]本实用新型 可以通过以下技 术方案实现： [0006]一种反射测量装置， 包括照明装置、 被测样品、 孔径光阑以及光学测量装置， 所述 照明装置包括一个或以上的光源， 所述照明装置出射的光线 经孔径光阑的通光孔入射至所 述被测样品， 所述被测样品表面的反射光线入射至光学测 量装置， 实现被测样品的光学特 性测量； 其中， 所述孔径光阑连接被测样品一侧为高光泽表面； 所述孔径光阑还设有凹槽， 所述凹槽位于孔径光阑的通光孔的外 围， 其直径大于通光孔的直径， 且所述凹槽的表面涂 有黑色涂层。 [0007]本方案中通过孔径光阑连接被测样品一侧高光泽表面的设计， 将原来从距离入射 位置横向一定距离处出射的光线通过镜面反射回到测 量区域位置， 降低横向扩散损失， 尤 其适用于半透明样品测量， 使测量反射率更接近颜料本身的反射率， 对于提高测量结果的 准确性和复现性具有重大帮助， 如图2所示。 在孔径光阑上设计黑色的凹槽， 限制了外界环 境光或者反射光通过样品的体散射进入探测器， 可以有效降低杂散光的影响， 提高测量精说　明　书 1/4 页 3 CN 217688562 U 3