(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211198989.2 (22)申请日 2022.09.29 (71)申请人 京东方科技 集团股份有限公司 地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 (72)发明人 梁轩　王飞　 (74)专利代理 机构 北京润泽恒知识产权代理有 限公司 1 1319 专利代理师 李娜 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/64(2006.01) (54)发明名称 一种荧光寿命检测装置及检测方法 (57)摘要 本申请实施例提供一种荧光寿命检测装置 及检测方法， 属于检测装置技术领域， 包括： 基板 以及设置在基板上的至少一个检测单元； 检测单 元包括发光模块、 探测模块和控制模块， 发光模 块和探测模块分别与控制模块连接； 发光模块用 于响应于控制模块发送的发光信号， 朝向待测样 品发出光线； 探测模块用于探测待测样品被光线 激发后辐射的荧光光子， 并生 成探测信号发送给 控制模块； 控制模块用于在发送发光信号时开始 计时， 并在接收到探测信号后停止计时， 以根据 开始发送发光信号与接收到探测信号之间的时 间间隔， 确定待测样品的荧光寿命。 通过本申请 实施例提供的一种荧光寿命检测装置及检测方 法， 可以降低测量 荧光寿命设备的成本 。 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 CN 115452722 A 2022.12.09 CN 115452722 A 1.一种荧 光寿命检测装置， 其特 征在于， 包括： 基板以及设置在所述基板上的至少一个 检测单元； 所述检测单元包括发光模块、 探测模块和控制模块， 所述发光模块和所述探测模块分 别与所述控制模块连接； 所述发光模块用于响应于所述控制模块发送的发光信号， 朝向待测样品发出光线； 所述探测模块用于探测所述待测样品被所述光线激发后辐射的荧光光子， 并生成探测 信号发送给 所述控制模块； 所述控制模块用于在发送所述发光信号 时开始计时， 并在接收到所述探测信号后停止 计时， 以根据开始发送发光信号与接 收到所述探测信号之间的时间间隔， 确定所述待测样 品的荧光寿命。 2.根据权利要求1所述的荧 光寿命检测装置， 其特 征在于： 所述发光模块包括Micro ‑LED芯片或mi ni‑LED芯片。 3.根据权利要求2所述的荧 光寿命检测装置， 其特 征在于： 所述Micro ‑LED芯片包括设置在背光侧的反射层和设置在出光侧的半透半反层； 或者， 所述Micro ‑LED芯片包括设置在出光侧的滤光层。 4.根据权利要求1所述的荧 光寿命检测装置， 其特 征在于： 所述探测模块包括单光子 雪崩二极管芯片。 5.根据权利要求1至4任一项所述的荧光寿命检测装置， 其特征在于， 所述荧光寿命检 测装置还 包括： 互联层， 位于所述基板与所述检测单 元之间； 所述发光模块、 探测模块和控制模块 通过互联层连接 。 6.根据权利要求1至4任一项所述的荧光寿命检测装置， 其特征在于， 所述荧光寿命检 测装置还 包括： 封装层， 设置在所述检测单 元背离所述基板的一侧。 7.根据权利要求1至4任一项所述的荧 光寿命检测装置， 其特 征在于： 所述控制模块包括信号发送单 元， 所述信号发送单 元与所述发光模块连接； 所述信号发送单 元用于所述发送发光信号至所述发光模块。 8.根据权利要求7 所述的荧 光寿命检测装置， 其特 征在于： 所述控制模块还 包括时间数字转换器； 所述数字转换器用于在所述信号发送单元开始发出所述发光信号 时开始计时， 在所述 控制模块接收到所述探测信号时结束计时， 以获取从发光信号发出到接收探测信号之 间的 时间间隔。 9.一种荧光寿命检测方法， 应用于如权利要求1 ‑8任一项所述的荧光寿命检测装置， 其 特征在于， 所述检测方法包括： 发送发光信号至发光模块， 使所述发光模块朝向待测样品发出光线， 并在发送发光信 号时开始计时； 探测所述待测样品被所述 光线激发后辐射的荧 光光子， 并生成探测信号； 接收所述探测信号， 并在接收到所述探测信号后停止计时； 根据开始发送所述发光信号与接收到所述探测信号之间的时间间隔， 确定所述待测样权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115452722 A 2品的荧光寿命。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115452722 A 3