(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210633003.3 (22)申请日 2022.06.06 (71)申请人 京东方科技 集团股份有限公司 地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 (72)发明人 张俊瑞　朱学辉　王利　刘一泽　 程久阳　孙秀茹　 (74)专利代理 机构 北京润泽恒知识产权代理有 限公司 1 1319 专利代理师 苟冬梅 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 5/50(2006.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/764(2022.01) (54)发明名称 缺陷检测方法、 装置、 缺陷检测系统、 设备及 介质 (57)摘要 本公开提供了一种缺陷检测方法、 装置和缺 陷检测系统， 所述方法包括： 对待检器件进行第 一图像采集， 得到初检图像； 基于所述初检图像， 对所述待检器件进行第一缺陷检测； 若未通过所 述第一缺陷检测， 对所述待检器件进行第二图像 采集， 得到精检图像； 其中， 所述精检图像的分辨 率高于所述初检图像的分辨率； 基于所述精检图 像， 对所述待检 器件进行第二 缺陷检测。 权利要求书3页 说明书15页 附图3页 CN 115035059 A 2022.09.09 CN 115035059 A 1.一种缺陷检测方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 对待检器件进行第一图像采集， 得到初检图像； 基于所述初检图像， 对所述待检 器件进行第一 缺陷检测； 若未通过所述第 一缺陷检测， 则对所述待检器件进行第 二图像采集， 得到精检图像； 其 中， 所述精检图像的分辨 率高于所述初检图像的分辨 率； 基于所述精检图像， 对所述待检 器件进行第二 缺陷检测。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述对所述待检器件进行第二图像采集， 得到精检图像， 包括： 分别在高曝光和低曝光下对所述待检器件进行所述第 二图像采集， 得到高曝光下的高 曝光图像和低曝光下的低曝光图像； 对所述高曝光图像和所述低曝光图像进行融合， 得到所述精检图像。 3.根据权利要求2所述的方法， 其特征在于， 所述对所述高曝光图像和所述低曝光图像 进行融合， 得到所述精检图像， 包括： 对所述高曝光图像进行降噪处 理， 得到所述高曝光图像的第一处 理后图像； 对所述低曝光图像进行自适应处理， 得到所述低曝光图像的第二处理后图像； 所述自 适应处理用于调整所述低曝光图像的对比度； 将所述第一处 理后图像和所述第二处 理后图像进行融合， 得到所述精检图像。 4.根据权利要求3所述的方法， 其特征在于， 所述对所述低曝光图像进行自适应处理， 得到所述低曝光图像的第二处 理后图像， 包括： 对所述低曝光图像中每 个像素点分别在各颜色通道的像素值进行归一 化处理； 基于所述低曝光图像中每个颜色通道中各个像素点的归一化后像素值的平均值， 确定 每个颜色通道对应的补偿值； 基于每个颜色通道对应的补偿值， 对该颜色通道中各个像素点的像素值进行补偿， 得 到所述第二处 理后图像。 5.根据权利要求4所述的方法， 其特征在于， 基于每个颜色通道对应的补偿值， 所述对 该颜色通道中各个 像素点的像素值进行补偿， 得到所述第二处 理后图像， 包括： 基于每个颜色通道对应的补偿值， 对该颜色通道中各个像素点的归一化后像素值进行 补偿， 得到该颜色通道中各个 像素点的补偿后值； 对各个像素点的补偿后值进行反归一 化处理， 得到所述第二处 理后图像。 6.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述初检图像有多张， 不同的初检图像对 应所述待检器件的不同区域， 所述基于所述初检图像， 对所述待检器件进 行第一缺陷检测， 包括： 基于多张所述初检图像， 对所述待检 器件进行第一 缺陷检测； 获得多张所述初检图像各自对应的初检结果； 所述若未通过 所述第一 缺陷检测， 则对所述待检 器件进行第二图像采集， 包括： 若存在表征所述待检器件具有缺陷的初检结果， 则对所述待检器件进行第二图像采 集。 7.根据权利要求6所述的方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 基于多张所述初检图像各自对应的区域， 对多张所述初检图像进行拼接；权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115035059 A 2在拼接得到的图像中标注多张所述初检图像各自对应的初检结果， 得到拼接后的检测 结果； 基于所述 拼接后的初检结果， 确定所述待检 器件是否通过 所述第一 缺陷检测。 8.根据权利要求6或7所述的方法， 其特征在于， 所述待检器件为显示屏， 多张所述初检 图像包括长边图像和短边图像， 所述对待检 器件进行第一图像采集， 得到初检图像， 包括： 沿着所述待检器件的长边的方向， 对所述长边的不同区段进行所述第一图像采集， 得 到多张所述长边图像； 沿着所述待检器件的短边的方向， 对所述短边的不同区段进行所述第一图像采集， 得 到多张所述短边图像。 9.根据权利要求1 ‑7任一所述的方法， 其特征在于， 所述若未通过所述第一缺陷检测， 对所述待检 器件进行第二图像采集， 包括： 若未通过所述第一缺陷检测， 则基于所述第一缺陷检测的结果， 确定所述待检器件的 缺陷区域； 对所述待检 器件的缺陷区域进行 所述第二图像采集， 得到所述精检图像。 10.根据权利要求1 ‑7任一所述的方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 若通过所述第一 缺陷检测， 则将所述待检 器件标记为 合格器件； 或者， 若未通过所述第 一缺陷检测而通过所述第 二缺陷检测， 则将所述待检器件标记为合格 器件。 11.根据权利要求1 ‑7任一所述的方法， 其特征在于， 所述基于所述初检图像， 对所述待 检器件进行第一 缺陷检测， 包括： 将所述初检图像输入至第一 缺陷检测模型， 以对所述待检 器件进行第一 缺陷检测； 基于所述精检图像， 对所述待检 器件进行第二 缺陷检测， 包括： 将所述精检图像输入至第二 缺陷检测模型， 以对所述待检 器件进行第二 缺陷检测。 12.根据权利要求1 ‑7任一所述的方法， 其特征在于， 所述第一图像采集为低于目标采 集精度的图像采集； 所述第二图像采集 为等于或高于所述目标采集精度的图像采集。 13.一种缺陷检测装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 第一采集模块， 用于对待检 器件进行第一图像采集， 得到初检图像； 第一检测模块， 用于基于所述初检图像， 对所述待检 器件进行第一 缺陷检测； 第二采集模块， 用于若未通过所述第 一缺陷检测， 对所述待检器件进行第 二图像采集， 得到精检图像； 所述精检图像的分辨 率高于所述初检图像的分辨 率； 第二检测模块， 用于基于所述精检图像， 对所述待检 器件进行第二 缺陷检测。 14.一种缺陷检测系统， 其特 征在于， 包括图像采集模组、 缺陷检测模组， 其中： 所述图像采集模组用于对待检器件进行第一图像采集， 得到初检图像， 以及用于对所 述待检器件进 行第二图像采集， 得到精检图像； 其中， 所述精检图像的分辨率高于所述初检 图像的分辨 率； 所述缺陷检测模组用于基于所述初检图像， 对所述待检器件进行第一缺陷检测， 以及 用于基于所述精检图像， 对所述待检 器件进行第二 缺陷检测。 15.根据权利要求14所述的系统， 其特征在于， 所述图像采集模组包括第一采集组件、 第二采集组件、 分流模组， 以及与所述分流模组连通的合格通道和精检通道；权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 115035059 A 3