(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211232159.7 (22)申请日 2022.10.10 (71)申请人 中国电子科技 集团公司第十 研究所 地址 610000 四川省成 都市金牛区茶店子 东街48号 (72)发明人 范俊波　李博　任泽梅　李凯　 张能波　胡顺勇　赵鹏　党章　 胡茂林　周光　李旭阳　 (74)专利代理 机构 成都九鼎天元知识产权代理 有限公司 51214 专利代理师 陈庆 (51)Int.Cl. G01R 31/00(2006.01) G01R 1/02(2006.01) G01R 1/04(2006.01)H05K 7/20(2006.01) (54)发明名称 毫米波GaN功放模块测试装置 (57)摘要 本发明涉及毫米波功放测试技术领域， 提供 毫米波GaN功放模块测试装置， 包括基台， 用于放 置功放模块； 基台上设置有用于容纳功放模块的 测试槽， 测试槽的前后侧对应设置有输入波导口 和输出波导口； 定位结构， 用于将功放模块限定 在测试位； 辅助固定件， 用于将功放模块压合于 测试槽内； 散 热件， 用于辅助功放模块散热。 本发 明通过开合的方式将功放模块放入测试槽内， 并 通过定位结构进行辅助定位， 快速的实现了功放 模块的定位安装， 便于提高测试的精确度和可靠 性； 散热件贴合功放模块进行散热， 帮助降低功 放模块的温度， 保护功放模块。 权利要求书1页 说明书5页 附图4页 CN 115508648 A 2022.12.23 CN 115508648 A 1.毫米波GaN功放模块测试装置， 其特 征在于， 包括： 基台(11)， 用于放置功放模块(13)， 并用作测试功放模块(13)的主体； 基台(11)上设置 有用于容纳功放模块(13)的测试槽(14)， 测试槽(14)的前后侧对应设置有输入波导口(1) 和输出波导口(6)； 定位结构， 设置于测试槽(14)内并与功放模块(13)配合， 用于将功放模块(13)限定在 测试位； 辅助固定件， 活动连接至基台(11)， 并活动盖合于测试槽(14)处或活动离开测试槽 (14)， 用于将功放模块(13)压合于测试槽(14)内； 散热件， 设置于辅助固定件上， 当辅助固定件压合功放模块(13)时与之贴合， 用于辅助 功放模块(13)散热。 2.根据权利要求1所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 所述的定位结构 包括初定位结构(8)， 初定位结构(8)至少包括两处不共面的限位面， 用于对功放模块(13) 初步限位。 3.根据权利要求2所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 所述的初定位结 构包括L形的限位 块， 限位块包括两相互垂直的限位 面。 4.根据权利要求1～3 中任一项所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 所述 的定位结构包括精定位结构(10)， 精定位结构(10)包括调节座和设置于调节座上的调节 杆， 调节杆相对调节座伸缩并用于调节抵紧功放模块(13)。 5.根据权利要求1所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 所述的辅助固定 件包括盖板件， 盖板件的一侧与基台(11)铰接使盖板件相对基台(11)翻转， 且盖板件上设 置有卡槽结构， 基台(1 1)上设置有与卡槽结构活动配合的扣紧件(3)。 6.根据权利要求5所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 所述的盖板件包 括固定连接的压 板(9)和延伸臂(12)， 延伸臂(12)与基台(1 1)的左侧表面铰接配合。 7.根据权利要求6所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 基台(11)的一个 侧表面上设置有固定连接座(7)， 延伸臂(12)与固定连接座(7)铰接配合。 8.根据权利 要求6所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 所述的压板(9)上 设置有导热槽(5)， 散热件设置 于导热槽(5)内。 9.根据权利要求5～8中任一项所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 所述 的扣紧件(3)至少包括两处铰接于基台(11)上的螺杆， 螺杆的上端设置有调节压紧帽， 调节 压紧帽沿螺杆调节 移动。 10.根据权利 要求9所述的毫米波GaN功放模块测试装置， 其特征在于： 基台(11)的侧表 面上设置有活动连接座(4)， 所述的螺杆 下端与活动连接座(4)铰接 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115508648 A 2毫米波GaN功放模块测试装 置 技术领域 [0001]本发明涉及毫米波功放测试技 术领域， 具体涉及毫米波GaN功放模块测试装置 。 背景技术 [0002]毫米波GaN(氮化镓)功放模块用于放大电磁波信号， 功放模块的性能需要经过测 试后得以确定。 一般将功放模块作为被测件设置在专门的测试装置上进行模拟工作， 进而 实现性能的测试。 传统测试装置表面有螺钉孔， 采用螺钉进行机械固定被测件， 效率较慢， 因被测件单个模块不具备散热功 能， 需要外加散热风机并使用稳压直流电源进行加电， 才 能使被测件在加电测试时， 不会因发热量大而烧毁。 此外， 被测件无定位装置， 易导致测试 安装时误伤射频芯片和微带等， 同时固定位置会出现偏差， 测试结果有误差， 导致产品整机 配对指标 出现误差， 从而影响产品的可靠性功能。 [0003]可见， 现在的功放模块测试还存在亟待改进的空间， 需要对功放模块的测试过程 进行优化， 提高测试的便捷度和精确度， 从而提高测试的效果。 故需要提出更为合理的技术 方案， 解决现有技 术中存在的技 术问题。 发明内容 [0004]至少为克服其中一种上述内容提到的缺陷， 本发明提出毫米波GaN功放模块测试 装置， 通过更加便于开启和关闭的用于放置与压紧功 放模块， 并贴合功 放模块进 行散热， 在 装置内还设置用于限制功放模块的定位结构， 通过上述改进使功放模块的固定测试简洁高 效， 测试准确度和一 致性更高， 测试 结果更加可靠 。 [0005]为了实现上述目的， 本发明公开的测试装置可采用如下技 术方案： [0006]毫米波GaN功放模块测试装置， 包括： [0007]基台， 用于放置功放模块， 并用作测试功放模块的主体； 基台上设置有用于容纳功 放模块的测试槽， 测试槽的前后侧对应设置有输入波导口和输出波导口； [0008]定位结构， 设置 于测试槽内并与功放模块配合， 用于将功放模块限定在测试位； [0009]辅助固定件， 活动连接至基台， 并活动盖合于测试槽处或活动离开测试槽， 用于将 功放模块压合于测试槽内； [0010]散热件， 设置于辅助固定件上， 当辅助固定件压合功放模块时与之贴合， 用于辅助 功放模块散热。 [0011]上述公开的测试装置， 通过基台作为载体以防止待测试的功放模块， 输入波导口 和输出波导口传输电磁波信号， 定位结构能够将功 放模块精确安装至指定的位置以提高测 试的精确度和一致性； 而辅助固定件能够快速开启和关闭， 便于功放模块的放置和取出， 同 时采用面接触的方式贴合功放模块的表面， 避免了压力将功放模块损坏； 且通过辅助固定 件设置的散热件辅助将功放模块上的热量带 走， 便于功放模块降温。 [0012]进一步的， 本发明中通过定位结构将功放模块进行定位， 以保持重复测试的一致 性， 本发明可采用的定位结构并不被唯一限定， 此处进 行优化并举出其中一种可行的选择：说　明　书 1/5 页 3 CN 115508648 A 3