(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211462361.9 (22)申请日 2022.11.17 (71)申请人 海拓仪器 （江苏） 有限公司 地址 215000 江苏省苏州市吴江区松陵镇 友谊村14组 (72)发明人 刘冬喜　陈宽勇　 (74)专利代理 机构 苏州唯思 而迈专利代理事务 所(普通合伙) 3245 3 专利代理师 李婧宇 (51)Int.Cl. G01R 31/00(2006.01) G01R 1/04(2006.01) H05K 7/20(2006.01) (54)发明名称 一种电子 器件老化测试装置 (57)摘要 本发明涉及一种电子器件老化测试装置， 包 括箱体、 设在箱 体内且具有进风口和回风口的试 验舱、 设在试验舱外围且与进风口和回风口连通 的循环风道、 循环风机， 循环风道壁上设有新风 口和排风口， 排风口设在回风口下游， 新风口设 在循环风机上游， 新风口位于排风口与循环风机 间， 新风口和排风口之间设有挡板装置； 挡板装 置具有至少两种工作状态， 当其处于第一状态 时， 新风口和排风口被遮挡， 循环风道打开； 当其 处于第二状态时， 新风口和排风口打开， 循环风 道被遮挡。 本发 明可令新风 沿原有循环风的流动 路径进行散热， 不仅可快速散热， 还确保产品间 温度均匀一致， 提高测试结果准确性， 同时取消 外接设备， 确保测试环境稳定， 减少能源消耗， 降 低测试成本 。 权利要求书2页 说明书6页 附图5页 CN 115508660 A 2022.12.23 CN 115508660 A 1.一种电子器件老化测试装置， 其特征在于： 包括箱体 （1） 、 设置在所述箱体 （1） 内且具 有至少一组进风口 （21） 和回风口 （22） 的试验舱 （2） 、 设置在所述试验舱 （2） 内的用于连接被 测电子器件的测试电路单元、 与所述试验舱 （2） 相邻并连接所述测试电路单元以提供电源 的电控箱、 设置在所述试验舱 （2） 外围且两端分别与所述进风口 （21） 和所述回风口 （22） 连 通的循环风道 （3） 、 设置在所述循环风道 （3） 内的循环风机 （4） 、 设置在所述循环风道 （3） 内 的加热装置 （6） ， 所述循环 风机 （4） 驱动气流自所述循环 风道 （3） 依次经过所述进风口 （21） 、 所述试验舱 （2） 、 所述回风口 （22） 后回到所述循环风道 （3） ， 所述循环风道 （3） 的壁上开设有 供外界空气进入所述循环风道 （3） 的新风口 （31） 和用于供所述循环风道 （3） 内气体排出至 外界的排风口 （32） ， 所述排风口 （32） 设置在所述回风口 （22） 的沿气流方向的下游， 所述新 风口 （31） 设置在所述循环风机 （4） 的沿气流方向的上游， 且所述新风口 （31） 的设置位置位 于所述排风口 （32） 和所述循环风机 （4） 之间， 所述新风口 （31） 和所述排风口 （32） 之间设置 有用于打开或遮挡所述新风口 （31） 和所述排风口 （32） 并用于打开或封堵位于所述排风口 （32） 和所述新风口 （31） 之间的所述循环风道 （3） 的挡 板装置 （5） ； 所述挡 板装置 （5） 具有至 少两种工作状态， 当其处于第一工作状态时， 所述新风口 （31） 和所述排风口 （32） 被遮挡， 所 述循环风道 （3） 被打开； 当所述挡板装置 （5） 处于第二工作状态时， 所述新风口 （31） 和所述 排风口 （32） 被打开， 所述循环风道 （3） 被遮挡。 2.根据权利要求1所述的 电子器件老化测试装置， 其特征在于： 所述挡板装置 （5） 还具 有处于所述第一工作状态和所述第二工作状态之间的至少一种第三工作状态， 当挡板装置 （5） 处于第三工作状态时， 所述新风口 （31） 和所述排风口 （32） 被部分遮挡， 所述循环风道 （3） 被部分 打开。 3.根据权利要求2所述的 电子器件老化测试装置， 其特征在于： 所述挡板装置 （5） 包括 沿垂直于其设置位置的气流方向转动连接在所述循环风道 （3） 内壁上的转轴 （51） 、 固定连 接在所述转轴 （51） 一侧并用于 打开或遮挡所述新风口 （31） 的第一挡板 （52） 、 固定连接在所 述转轴 （51） 另一侧并用于打开或封堵所述循环风道 （3） 的第二挡板 （53） 、 固定设置于所述 第二挡板 （53） 的贴近所述循环 风道 （3） 内壁的侧边且垂直于所述第二挡板 （53） 并用于 打开 或遮挡所述排风口 （32） 的第三挡板 （54） 、 与所述转轴 （51） 相连接并用于驱动所述转轴 （51） 转动的驱动组件 （55） ， 当所述挡板装置 （5） 处于第一工作状态时， 所述第一挡板 （52） 完全遮 挡所述新风口 （31） ， 所述第二挡板 （53） 完全打开所述循环 风道 （3） ， 所述第三挡板 （54） 完全 遮挡所述排风口 （32） ； 当所述挡板装置 （5） 处于第三工作状态时， 所述第一挡板 （52） 部分遮 挡所述新风口 （31） ， 所述第二挡板 （53） 部分封堵所述循环 风道 （3） ， 所述第三挡板 （54） 部分 遮挡所述排风口 （32） ； 当所述挡板装置 （5） 处于第二工作状态时， 所述第一挡板 （52） 完全打 开所述新风口 （31） ， 所述第二挡板 （53） 完全封堵所述循环 风道 （3） ， 所述第三挡板 （54） 完全 打开所述 排风口 （32） 。 4.根据权利要求3所述的电子器件老化测试装置， 其特征在于： 所述排风口 （32） 设置在 所述循环风道 （3） 的垂直于所述转轴 （51） 的一侧壁上， 所述新风口 （31） 设置在所述循环风 道 （3） 的平行于所述 转轴 （51） 的一侧壁上。 5.根据权利要求3所述的电子器件老化测试装置， 其特征在于： 所述驱动组件 （55） 包括 一端与所述转轴 （51） 的端部固定连接的摇臂 （551） 、 沿水平方向滑动连接在所述箱体 （1） 上 的启动件 （552） ， 所述启动件 （552） 靠近所述摇臂 （551） 的端部开设有垂直于所述转轴 （51）权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115508660 A 2轴向的滑槽 （553） ， 所述摇臂 （551） 的另一端设置有滑块 （554） ， 所述滑块 （554） 既能够相对 转动又能够相对滑动地连接在所述滑槽 （5 53） 内。 6.根据权利要求1所述的电子器件老化测试装置， 其特征在于： 所述测试电路单元包括 若干上下排布并用于装载电子器件的载板 （23） ， 若干所述载板 （23） 将所述试验舱 （2） 分隔 成若干试验层 （24） ， 每 个所述试验层 （24） 均设置有一组所述进风口 （21） 和回风口 （2 2） 。 7.根据权利要求6所述的电子器件老化测试装置， 其特征在于： 每个所述试验层 （24） 内 的所述进风口 （21） 和所述回风口 （2 2） 分别设置在所述试验层 （24） 相对的两侧壁上。 8.根据权利要求1所述的 电子器件老化测试装置， 其特征在于： 所述循环风道 （3） 内与 所述进风口 （21） 相对的内壁上设置有数量、 位置均与所述进风口 （21） 相对应并用于将气流 导向对应所述进风口 （21） 的导流板 （33） ， 每个所述导流板 （33） 均从其与所述循环风道 （3） 的内壁相连接的一侧向靠 近所述进风口 （21） 的一侧自气流方向的上游向下游倾 斜设置。 9.根据权利要求8所述的电子器件老化测试装置， 其特征在于： 每个位于气流方向下游 的所述导流板 （33） 的长度均大于位于气流方向上游的所述 导流板 （33） 的长度。 10.根据权利要求1所述的电子器件老化测试装置， 其特征在于： 所述加热装置 （6） 位于 所述新风口 （31） 和所述循环风机 （4） 之间。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115508660 A 3